Comet Yxlon GmbH

• Seeria: FF-seeria
• Tööstus: Autotööstus, elektroonika, kosmosetööstus, teadus ja uurimistöö, valukodad, pooljuhtide tootmine, lisatootmine
• Defekti suurus: <1µm, <50µm, <1mm, >1mm
• Osa suurus: väike suurus, keskmine suurus, suur suurus
• Töörežiim: 3D, 2D/3D, metroloogia

• Ühe või kahe toru konfiguratsioon suurima mitmekülgsuse tagamiseks laboratoorsetes mikro-CT rakendustes
• Üleminek 225 kV mikrofookuse ja 190 kV nanofookuse torude vahel ühe nupuvajutusega sekunditega
• Täpsed tulemused tänu graniidipõhisele manipuleerimisele ja õhukonditsioneerimisele
• Rakenduse paindlikkus tänu erinevatele CT-trajektooridele ja FoV laiendustele tarkvaraplatvormi Geminy kaudu
• Valikuline metroloogiline versioon MPESD = 5,9 µm + L/75 [L millimeetrites]
• Saadaval FF35 CT SEMI versioonina vastavalt pooljuhtide turu standarditele

Väga väikeste ja keskmise suurusega detailide paindlik kontrollimine
Comet Yxlon FF35 CT, FF35 CT Metrology ja FF35 CT SEMI katavad erakordselt laia rakendusvaldkonna. Võimaluste hulka kuuluvad täiustatud materjalikontroll teadus- ja arendusosakonnas, protsessikontrolli optimeerimine ja väikeseeria kontroll ning mitmesugused teaduslikud rakendused. Kahe röntgenkiiretoru seadistus võimaldab suure eraldusvõimega CT-süsteemi abil oluliselt laiendada kvaliteedi tagamise ja teadusuuringute võimalusi autotööstuses, elektroonikatööstuses, lennunduses ja materjaliteaduses.

• Elektroonikakomponendid, sh SMD-komponendid
• Tooted, mis hõlmavad uusi materjale või uusi tootmismeetodeid, nt lisatehnoloogiliselt valmistatud komponendid, kiududega tugevdatud plastid
• Akuelemendid ja -moodulid
• Survevormitud plastid
• Mikrosüsteemid (MEMS, MOEMS)
• Meditsiinilised esemed, nt kanüülid
• Kergsulamist valandid
• Geoloogilised, paleontoloogilised ja bioloogilised proovid

• Kvaliteedi tagamine, materjalide analüüs ja teadusuuringud
• Vigade ja struktuuri analüüs
• Kokkupaneku kontrollimine
• Väikesemahulise seeriatoodangu kontrollimine
• Protsessi kontroll
• Digiteerimine
• Segmenteerimine