Comet Yxlon GmbH

• Seeria: FF-seeria
• Tööstus: Autotööstus, elektroonika, lennundus, teadus ja uurimistöö, pooljuhtide tootmine, tootmine, lisaseadmed
• Defekti suurus: <1µm, <50µm, <1mm, >1mm
• Osa suurus: väike suurus, keskmine suurus
• Töörežiim: 3D, 2D/3D, metroloogia

• Täpne materjalianalüüs laboratoorsetes rakendustes
• 2D detailide nähtavus kuni 150 nm ulatuses 190 kV ülekandetoruga
• Täpne manipuleerimine ja temperatuuristabiilsus graniidist aluse kaudu
• Intuitiivne Geminy graafiline kasutajaliides koos puutetundliku ekraaniga
• Valikuline metroloogiline versioon MPESD = 3,9 µm + L/75 [L millimeetrites]
• Mittepurustav testimine suure energiaga

Mida väiksemaks muutuvad komponendid, seda olulisem on saavutada väga täpne ja usaldusväärne röntgen- ja kompuutertomograafia kvaliteedi tagamiseks, protsessikontrolliks ja väikeseeria kontrolliks. Äärmiselt kompaktsed suure eraldusvõimega süsteemid Comet Yxlon FF20 CT ja FF20 CT Metrology on loodud spetsiaalselt väga peente detailide ja sisemiste struktuuride kontrollimiseks. Suhteliselt kõrge 190 kV energiaga saab isegi tihedaid esemeid analüüsida kõige väiksemate detailideni.

• Elektroonikakomponendid, sh SMD
• Pooljuhtide pakendid
• Akuelemendid
• Survevormitud plastid
• Tooted, mis hõlmavad uusi materjale või uusi tootmismeetodeid, nt lisatehnoloogiliselt valmistatud komponendid, kiududega tugevdatud plastid
• Mikrosüsteemid (MEMS, MOEMS)
• Meditsiinilised esemed, nt kanüülid
• Geoloogilised, paleontoloogilised ja bioloogilised proovid

• Kvaliteedi tagamine, materjali analüüs, materjaliuuringud
• Vigade ja struktuuride analüüs
• Kokkupaneku kontrollimine
• Väikesemahulise seeriatoodangu kontrollimine
• Protsessi kontroll
• Digiteerimine
• Segmenteerimine