Dirk Steiner, Yxloni äriarendusjuht, on alates 2004. aastast intensiivselt tegelenud tööstusliku kompuutertomograafiaga ning on skaneerinud ja analüüsinud rohkem kui 1000 andmekogumit. Siin on teil võimalus vaadata GIE Media poolt korraldatud Today's Metrology Live veebiseminari salvestust ja kuulda, kuidas arvutitomograafia abil usaldusväärselt lahendada nõudlikke metroloogiaülesandeid. Yxlon oli kohal koos teiste metroloogiaga seotud tehnoloogiate tootjatega, et anda terviklik ülevaade lahendustest.

Dirk rääkis tööstusliku kompuutertomograafia (CT) abil tehtava metroloogia viimastest suundumustest ja sellest, kuidas andmed on võtmetähtsusega, et saada tootjatele vajalikku teavet tõhususe suurendamiseks ja kulude vähendamiseks. Tootjate jaoks on kõige olulisem nende toodete kõrge kvaliteet. Ümarlaual arutasid viis osalejat, kuidas nende lahendused aitavad tootjatel seda saavutada. Sisemiste struktuuride mõõtmine ja analüüs on aga võimalik ainult CT abil.

Vastuseks ühele esitatud küsimusele ütles Dirk: "CT on mittetaktikaline meetod, seega me ei muuda protsessi käigus geomeetriat. Me näeme sisemisi struktuure ja kuna tänapäeval on suur suund additiivse tootmise suunas, ei ole piirid, mida saab projekteerida ja printida. CT abil saame vaadata sissepoole ja mõõta asju, mis on kas allapoole lõigatud või isegi detaili sees peidetud. Lisaks saame andmeid ka defektidest, sisemistest defektidest, millel iseenesest ei ole midagi pistmist metroloogiaga. Seega lööme kaks kärbest ühe hoobiga."